簡要描述:【無錫冠亞】半導體控溫解決方案主要產品包括半導體專?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備,?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽能光伏等領域。半導體集成電路Chiller 元器件測試用設備
品牌 | 冠亞制冷 | 冷卻方式 | 水冷式 |
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價格區(qū)間 | 10萬-50萬 | 產地類別 | 國產 |
儀器種類 | 一體式 | 應用領域 | 化工,生物產業(yè),電子,制藥,汽車 |
主要產品包括半導體專?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備,
?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽能光伏等領域。
半導體專溫控設備
射流式?低溫沖擊測試機
半導體專用溫控設備chiller
Chiller氣體降溫控溫系統(tǒng)
Chiller直冷型
循環(huán)風控溫裝置
半導體?低溫測試設備
電?設備?溫低溫恒溫測試冷熱源
射流式高低溫沖擊測試機
快速溫變控溫卡盤
數據中心液冷解決方案
型號 | FLT-002 | FLT-003 | FLT-004 | FLT-006 | FLT-008 | FLT-010 | FLT-015 |
FLT-002W | FLT-003W | FLT-004W | FLT-006W | FLT-008W | FLT-010W | FLT-015W | |
溫度范圍 | 5℃~40℃ | ||||||
控溫精度 | ±0.1℃ | ||||||
流量控制 | 10~25L/min 5bar max | 15~45L/min 6bar max | 25~75L/min 6bar max | ||||
制冷量at10℃ | 6kw | 8kw | 10kw | 15 kw | 20kw | 25kw | 40kw |
內循環(huán)液容積 | 4L | 5L | 6L | 8L | 10L | 12L | 20L |
膨脹罐容積 | 10L | 10L | 15L | 15L | 20L | 25L | 35L |
制冷劑 | R410A | ||||||
載冷劑 | 硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等 (DI溫度需要控制10℃以上) | ||||||
進出接口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 |
冷卻水口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 | ZG1 | ZG1 1/8 |
冷卻水流量at20℃ | 1.5m3/h | 2m3/h | 2.5m3/h | 4m3/h | 4.5m3/h | 5.6m3/h | 9m3/h |
電源380V | 3.5kW | 4kW | 5.5kW | 7kW | 9.5kW | 12kW | 16kW |
溫度擴展 | 通過增加電加熱器,擴展-25℃~80℃ |
半導體集成電路Chiller 元器件測試用設備
半導體集成電路Chiller 元器件測試用設備
在半導體制造過程中,冠亞制冷的冷卻設備chiller的作用大家有目共睹。本文將介紹介質刻蝕雙通道chiller調試過程中的注意事項。
一、準備工作
在進行介質刻蝕雙通道chiller調試之前,先要確保所有準備工作已經完成。這包括:
1、確認介質刻蝕雙通道chiller安裝正確:檢查設備的安裝位置、管道連接等是否符合設計要求。
2、電源連接:確保電源連接穩(wěn)定,并按照介質刻蝕雙通道chiller規(guī)格書的要求設置電源參數。
3、閥門和儀表校準:檢查所有的閥門和儀表是否已經校準,確保測量準確。
二、調試過程
1、啟動順序:按照介質刻蝕雙通道chiller手冊的啟動順序進行啟動,確保每個步驟都正確無誤。
2、參數設置:根據介質刻蝕雙通道chiller規(guī)格書的要求,設置合適的參數,如冷卻水流量、溫度等。
3、運行測試:在介質刻蝕雙通道chiller運行過程中,密切關注各項參數的變化,確保介質刻蝕雙通道chiller正常運行。
4、故障排查:如果介質刻蝕雙通道chiller出現(xiàn)故障,根據故障現(xiàn)象進行排查,找出故障原因并進行修復。